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fischer熒光鍍層分析儀x-ray X-RAY XUL-XYm全稱FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm，德國*，比同系列產品FISCHERSCOPE® X-RAY XUL多了手動可調節(jié)平臺。主要用于測量鍍層厚度，分析鍍層和溶液（電解液）的成分（成份）

型號：X-RAY XUL-XYm

更新日期：2024-07-08

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X射線熒光鍍層測厚儀又名x-ray光譜儀，x射線合金測厚儀，射線熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。

型號：XULM XULM-XYm

更新日期：2024-07-07

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X-RAY鍍層測厚儀或稱射線分析儀，德國*，全稱為FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210，可以測量電鍍層例如：銅、鎳、鉻、鋅、錫、鈦、金、銀或者合金比如鋅鎳合金等等的鍍層厚度以及成份，還可以進行電解液（電鍍溶液）的測成份分析

型號：FISCHERSCOPE XDL210

更新日期：2024-07-07

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HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的處理和使用了的軟件和硬件技術，FISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點

型號：FISCHER

更新日期：2024-07-07

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